Equotip 550 Portable Rockwell硬度檢測儀
用于刮擦敏感、拋光及細(xì)小部件的 Portable Rockwell 硬度檢測儀。它通過微米級的細(xì)小穿透能力及靈敏度。堅(jiān)固的觸摸屏帶有增強(qiáng)的軟件應(yīng)用和分析功能。
于細(xì)小部件
尤其適合對刮擦敏感且拋光的部件或細(xì)小部件、剖面和管道?？煽坑捕茸x數(shù)所要求的*低厚度是十倍壓入深度。對于質(zhì)量，沒有*低要求。
適用于各種樣品幾何體
探頭可以利用的測量夾和支撐腳對各種幾何體進(jìn)行檢測。
硬度單位眾多
以 HRC 和 HV 為單位的測量可自動轉(zhuǎn)換為 HB、HRA、HRB 以及更多符合 ASTM E140 和 ISO 18265 標(biāo)準(zhǔn)的通用單位。
適用于任何環(huán)境
Equotip 550 Portable Rockwell 可用于現(xiàn)場、工廠和實(shí)驗(yàn)室環(huán)境，幾乎無任何限制。
Rockwell 測量原理
Equotip Portable Rockwell 的測量原理沿用傳統(tǒng)的洛氏硬度靜態(tài)檢測法。使用 Equotip Portable Rockwell 探頭測量期間，使用準(zhǔn)確的控制力將金剛石壓頭壓入待測件中。在施加負(fù)載并釋放的同時，連續(xù)測量金剛石壓頭的壓入深度。通過記錄施加兩個限定負(fù)載時的壓入深度 d1 和 d2 來計(jì)算差異：Δ = d2 – d1。這通常稱為塑性變形。
圓形標(biāo)準(zhǔn)腳（磁性）
適用于扁平部件和邊緣距離大于 10mm 的檢測位置。
三腳架的腳
專為要求*定位的檢測件（焊接、受熱區(qū)域）而設(shè)計(jì)。
特殊腳 RZ 18-70 和 70-∞
專為彎曲的測試件（例如圓柱形部件、管子、導(dǎo)管）而設(shè)計(jì)。
優(yōu)勢：
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與 Leeb 和 UCI 相結(jié)合
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與固定式 Rockwell 硬度檢測儀同樣可靠、準(zhǔn)確和標(biāo)準(zhǔn)化，但比之更快
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內(nèi)置強(qiáng)大的報(bào)告功能，隨時準(zhǔn)備好可用的數(shù)據(jù)資料
